1、對于磁性基體的金屬特性，規(guī)范片的基體金屬的磁性和和試件基體金屬的磁性相同，以及表面粗糙度也相似。對于渦流方法，規(guī)范片基體金屬與試件基體金屬的電性質(zhì)也是相似的。

　　

　　2、要確保基體金屬厚度檢查基體金屬厚度有沒有超過超過臨界厚度，假如沒有，就可以采用1點，或者2點方法進行校準。

　　

　　3、邊緣效應不能在緊靠試件的突變處，比如說邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處來進行測量。

　　

　　4、曲率不能在工件的彎曲外表上測量。

　　

　　5、每次測量的讀數(shù)可能不*相同，一般是由于操作手法和基體的均勻度造成的，所以在使用涂層測厚儀的有必要再每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。還有就是覆蓋層厚度的不均勻，也要求我們在測量任一給定的面積內(nèi)要進行多次測量，另外表粗造度也會影響測量金結(jié)果。

　　

　　6、在使用鍍層厚度檢測儀測量涂層之前，首先要清除表面上的任何附著物質(zhì)，比如說塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，在清潔的時候要注意不能損壞需要測量的涂層。