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光學測量儀器
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照明方式 45°/0°
測量口徑 Φ8mm
波長范圍 400nm-700nm
照明方式 D/8
測量口徑 標配Φ8mm可定制Φ4mm
波長范圍 400nm-700nm
照明方式 D/8
測量口徑 Φ8mm/Φ4mm可切換
波長范圍 400nm-700nm
測量范圍:士 45°(旋光度) ±120°Z (糖度)
最小讀數: 0.001° (旋光度) 0,01°Z (糖度)
測量范圍:±45° (旋光度 )
最小讀數: 0.002° (旋光度)
測量結構：D/8 ,包含鏡面反射光（SCI）
測量指標：CIE-Lab,ΔE*ab,光譜曲線
照明光源：LED(全波段均衡LED光源)
測量口徑：8mm
測量穩(wěn)定性：ΔE≤0.1(每間隔5s測量白板30次)
測量結構：D/8 ,包含鏡面反射光（SCI）
測量口徑：8mm
波長間隔：10nm
波長范圍：400-700nm
測量穩(wěn)定性：ΔE≤0.1(每間隔5s測量白板30次)
測量口徑：8mm
波長間隔：10nm
波長范圍：400-700nm
測量穩(wěn)定性：ΔE≤0.05(每間隔5s測量白板30次)
測量口徑：約直徑8mm
測量條件：CIE10˚標準觀察者，CIE D65光源
測量范圍：L*：1-100
重復性：標準偏差△E*ab,0.1以內
測量條件 CIE 10˚標準觀察者，CIE D65光源
測量范圍 L*：1-100
重復性 標準偏差△E*ab,0.08以內
共計：184個產品　首頁上十頁111213141516171819尾頁

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